【活用ガイド】

JVNDB-2022-007338

複数の NXP Semiconductors 製品における古典的バッファオーバーフローの脆弱性

概要

lpc55s66jbd64 ファームウェア、LPC55S66JBD100 ファームウェア、lpc55s66jev98 ファームウェア等複数の NXP Semiconductors 製品には、古典的バッファオーバーフローの脆弱性が存在します。
CVSS による深刻度 (CVSS とは?)

CVSS v3 による深刻度
基本値: 7.8 (重要) [NVD値]
  • 攻撃元区分: ローカル
  • 攻撃条件の複雑さ: 低
  • 攻撃に必要な特権レベル: 不要
  • 利用者の関与: 要
  • 影響の想定範囲: 変更なし
  • 機密性への影響(C): 高
  • 完全性への影響(I): 高
  • 可用性への影響(A): 高
CVSS v2 による深刻度
基本値: 6.8 (警告) [NVD値]
  • 攻撃元区分: ネットワーク
  • 攻撃条件の複雑さ: 中
  • 攻撃前の認証要否: 不要
  • 機密性への影響(C): 部分的
  • 完全性への影響(I): 部分的
  • 可用性への影響(A): 部分的
影響を受けるシステム


NXP Semiconductors
  • LPC55S66JBD100 ファームウェア
  • lpc55s66jbd64 ファームウェア
  • lpc55s66jev98 ファームウェア
  • LPC55S69JBD100 ファームウェア
  • LPC55S69JBD64 ファームウェア
  • LPC55S69JEV98 ファームウェア

本脆弱性の影響を受ける製品の詳細については、ベンダ情報および参考情報をご確認ください。
想定される影響

情報を取得される、情報を改ざんされる、およびサービス運用妨害 (DoS) 状態にされる可能性があります。
対策

参考情報を参照して適切な対策を実施してください。
ベンダ情報

CWEによる脆弱性タイプ一覧  CWEとは?

  1. 古典的バッファオーバーフロー(CWE-120) [NVD評価]
共通脆弱性識別子(CVE)  CVEとは?

  1. CVE-2022-22819
参考情報

  1. National Vulnerability Database (NVD) : CVE-2022-22819
  2. 関連文書 : oxide.computer (another-vulnerability-in-the-lpc55s69-rom)
  3. 関連文書 : www.nxp.com
更新履歴

  • [2023年07月13日]
      掲載

公表日2022/03/23
登録日2023/07/13
最終更新日2023/07/13