JVNDB-2019-014660
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KW41Z デバイス用 NXP SDK における古典的バッファオーバーフローの脆弱性
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KW41Z デバイス用 NXP SDK には、古典的バッファオーバーフローの脆弱性が存在します。
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CVSS v3 による深刻度 基本値: 8.8 (重要) [NVD値]
- 攻撃元区分: 隣接
- 攻撃条件の複雑さ: 低
- 攻撃に必要な特権レベル: 不要
- 利用者の関与: 不要
- 影響の想定範囲: 変更なし
- 機密性への影響(C): 高
- 完全性への影響(I): 高
- 可用性への影響(A): 高
CVSS v2 による深刻度 基本値: 5.8 (警告) [NVD値]
- 攻撃元区分: 隣接
- 攻撃条件の複雑さ: 低
- 攻撃前の認証要否: 不要
- 機密性への影響(C): 部分的
- 完全性への影響(I): 部分的
- 可用性への影響(A): 部分的
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NXP Semiconductors
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情報を取得される、情報を改ざんされる、およびサービス運用妨害 (DoS) 状態にされる可能性があります。
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ベンダ情報および参考情報を参照して適切な対策を実施してください。
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NXP Semiconductors
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- 古典的バッファオーバーフロー(CWE-120) [NVD評価]
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- CVE-2019-17519
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- National Vulnerability Database (NVD) : CVE-2019-17519
- ICS-CERT ADVISORY : ICS-ALERT-20-063-01
- 関連文書 : Unleashing Mayhem over Bluetooth Low Energy
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- [2020年03月06日]
掲載
- [2020年03月26日]
参考情報:ICS-CERT ALERT (ICS-ALERT-20-063-01) を追加
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