【活用ガイド】

JVNDB-2019-012157

STMicroelectronics ST33TPHF2ESPI TPM デバイスにおける観測可能な不一致に関する脆弱性

概要

STMicroelectronics ST33TPHF2ESPI TPM デバイスには、観測可能な不一致に関する脆弱性、暗号アルゴリズムの使用に関する脆弱性が存在します。

ベンダは、本脆弱性を TPM-FAIL として公開しています。
CVSS による深刻度 (CVSS とは?)

CVSS v3 による深刻度
基本値: 5.9 (警告) [NVD値]
  • 攻撃元区分: ネットワーク
  • 攻撃条件の複雑さ: 高
  • 攻撃に必要な特権レベル: 不要
  • 利用者の関与: 不要
  • 影響の想定範囲: 変更なし
  • 機密性への影響(C): 高
  • 完全性への影響(I): なし
  • 可用性への影響(A): なし
CVSS v2 による深刻度
基本値: 4.3 (警告) [NVD値]
  • 攻撃元区分: ネットワーク
  • 攻撃条件の複雑さ: 中
  • 攻撃前の認証要否: 不要
  • 機密性への影響(C): 部分的
  • 完全性への影響(I): なし
  • 可用性への影響(A): なし
影響を受けるシステム


STMicroelectronics
  • ST33TPHF2ESPI ファームウェア 2019/09/12 より前
  • ST33TPHF2ESPIQFN ファームウェア
  • ST33TPHF2ESPIR28 ファームウェア

本脆弱性の影響を受ける製品の詳細については、ベンダ情報および参考情報をご確認ください。
想定される影響

情報を取得される可能性があります。
対策

ベンダより正式な対策が公開されています。ベンダ情報を参照して適切な対策を実施してください。
ベンダ情報

STMicroelectronics
CWEによる脆弱性タイプ一覧  CWEとは?

  1. 不完全、または危険な暗号アルゴリズムの使用(CWE-327) [NVD評価]
  2. 観測可能な不一致(CWE-203) [NVD評価]
共通脆弱性識別子(CVE)  CVEとは?

  1. CVE-2019-16863
参考情報

  1. National Vulnerability Database (NVD) : CVE-2019-16863
  2. 関連文書 : ADV190024 | Microsoft Guidance for Vulnerability in Trusted Platform Module (TPM)
更新履歴

  • [2019年11月26日]
      掲載

公表日2019/11/12
登録日2019/11/26
最終更新日2019/11/26